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수직형 중성자반사율측정장치
수직형 중성자반사율측정장치 REF-V Vertical Type Neutron Reflectometer
  • 시료의 전반사각 주변으로 미세한 각도로 입사된 중성자는 입사각과 같은 각도로 반사하게 된다. 이러한 반사각의 크기에 따른 거울 반사의 정도를 측정한 반사 패턴을 분석해 박막 재료의 미세구조 정보를 얻는 장치가 중성자반사율 장치이며 하나로에는 시료를 수직형으로 설치하는 구조를 가지는 수직형 중성자반사율 측정장치(REF-V, Vertical-type REFlectometer)를 외부 이용자들에게 제공하고 있다. 중성자반사율 장치는 반도체/자성 나노소재, 양자컴퓨팅/스핀트로닉스 소재, 이차 전지/태양전지/연료전지 소재, 고분자 소재 등의 박막 구조 연구에 폭넓게 활용된다.

이용문의

  • 이준혁 책임연구원
  • 중성자과학부
  • 042-868-4660

주요사양

테이블 정보가 들어갑니다.
REF-V
운영장소 CNLB CG1A
시료방향 수직
단색기, 필터 7 PG(002) focused, β=0.4°,LN2cooled Be
파장, Δλ / λ 4.7535 ± 0.0012Å
Q 범위, ΔQ / Q 0.003 ~ 0.3 Å−1, > 2.0% at slit width 1.5mm
최소반사율 ~10-8
중성자 속
(n/cm2/sec, 시료위치)		 ~8.0 x 105
검출기 Hellum-3 Single
편극기, 해석기, 스핀반전기 Fe/SI 초거울(m=3), Mezei type, FR>95%, P>94%
시료환경장치 액체셀, 고온 진공로(~250℃), 전자석(1.2T)

시료환경장치

전자석(1.2T)과 4K저온장치
고온 진공로
액체셀

연구분야

  • 금속, 산화물 박막구조분석
  • 이차전지전극소재 실시간 계면구조분석
  • 거대자기특성 박막 자기분포분석
  • 2차원소재 층사구조분석
  • 고분자/바이오소재 계면분석
  • 액체/고체 계면/표면분석

활용분야(응용분야)

  • 자성 박막 등의 나노/반도체 소재분야
  • 차세대 스핀트로닉스, 양자컴퓨터 미래소재분야
  • 이차전지전극/전해질, 태양전지 등 실시간 구조분석을 통한 에너지분야
  • 고분자 거동 연구분야

대표성과

  • J. Koo et al., RSC Adv., 6 (2016) 55842
  • H. Kim et al., Langmuir, 30 (2014) 2170
  • J. G. Son et al., Macromolecules, 45 (2012) 150