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수직형 중성자반사율측정장치
수직형중성자반사율측정장치 REF-V Vertical Type Neutron Reflectometer
  • 중성자를 이용한 박막소재의 계면/표면 연구
  • 반도체/자성 나노소재, 양자컴퓨팅/스핀트로닉스 미래소재, 이차전지/태양전이/SOFC 에너지소재, 고분자소재 연구에 활용

이용문의

  • 이준혁 책임연구원
  • 중성자과학부
  • junelee@kaeri.re.kr
  • 042-868-4660

주요사양

테이블 정보가 들어갑니다.
REF-V
운영장소 CNLB CG1A
시료방향 수직
단색기, 필터 7 PG(002) focused, β=0.4°,LN2cooled Be
파장, Δλ / λ 4.7535 ± 0.0012Å
Q 범위, ΔQ / Q 0.003 ~ 0.3 Å−1, > 2.0% at slit width 1.5mm
최소반사율 ~10-8
중성자 속
(n/cm2/sec, 시료위치)
~8.0 x 105
검출기 Hellum-3 Single
편극기, 해석기, 스핀반전기 Fe/SI 초거울(m=3), Mezei type, FR>95%, P>94%
시료환경장치 액체셀, 고온 진공로(~250℃), 전자석(1.2T)

시료환경장치

전자석(1.2T)과 4K저온장치
고온 진공로
액체셀

연구분야

  • 금속, 산화물 박막구조분석
  • 이차전지전극소재 실시간 계면구조분석
  • 거대자기특성 박막 자기분포분석
  • 2차원소재 층사구조분석
  • 고분자/바이오소재 계면분석
  • 액체/고체 계면/표면분석

활용분야(응용분야)

  • 자성 박막 등의 나노/반도체 소재분야
  • 차세대 스핀트로닉스, 양자컴퓨터 미래소재분야
  • 이차전지전극/전해질, 태양전지 등 실시간 구조분석을 통한 에너지분야
  • 고분자 거동 연구분야

대표성과

  • J. Koo et al., RSC Adv., 6 (2016) 55842
  • H. Kim et al., Langmuir, 30 (2014) 2170
  • J. G. Son et al., Macromolecules, 45 (2012) 150