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기본정보
| 장비사진 |
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장비명(한글) | 소재 미세구조 분석 원자힘 현미경 |
|---|---|---|---|
| 장비명(영문) | Atomic Force Microscope | ||
| 장비분류 | 성능평가 | ||
| 도입년도 | 2015 | ||
| NTIS번호 | NFEC-2015-06-203437 | ||
| 장비위치 | 방사선기기팹센터 2층 05호 | 장비상태 | 사용가능 |
| 기본사용료(천원) | 41000 | 전문가의뢰 | NO |
| 장비사진파일 | 25. Atomic Force Microscope.JPG (2584739 byte) | ||
상세정보
| 사양 | - 스캐너: XY scanner(스캔범위: 10~100 um), z scanner(스캔범위: 12, 25 um) - vision: direct-on-axis vision of sample surface and cantilever (CCD: 1Mega-pixel) - 측정모드: true-non-contact mode, basic contact mode - stage: xy travel range->13x13 mm2, z-travel range-> 29.5 mm, focus travel range->0 mm |
|---|---|
| 용도 | 방사선센서용 섬광체 및 화합물 반도체 소재의 표면 1,2,3차원 형상 및 표면 거칠기 특성 관찰 |
장비담당자정보
| 장비담당자명 | 김영수 | 장비담당전화 | 063-570-3702 |
|---|---|---|---|
| 장비담당부서 | 방사선이용·운영부 | 장비담당직위 | 선임연구원 |
| 장비담당팩스 | 장비담당메일 | yskim75@kaeri.re.kr |